Defects in microelectronic materials and devices
D M Fleetwood, Sokrates T Pantelides, Ronald Donald SchrimpfКатегорії:
Рік:
2009
Видавництво:
CRC Press
Мова:
english
Сторінки:
753
ISBN 10:
1420043765
ISBN 13:
9781420043761
Файл:
PDF, 18.86 MB
IPFS:
,
english, 2009