Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024
Про збір коштів
пошук книг
книги
Пожертвування:
21.6% досягнуто
Увійти
Увійти
авторизованим користувачам доступні:
персональні рекомедації
Telegram бот
історія завантажувань
надіслати на Email чи Kindle
управління добірками
зберігання у вибране
Особисте
Запити на книги
Вивчення
Z-Recommend
Перелік книг
Найпопулярніші
Категорії
Участь
Підтримати
Завантаження
Litera Library
Пожертвувати паперові книги
Додати паперові книги
Search paper books
Відкрити LITERA Point
Пошук ключових слів
Main
Пошук ключових слів
search
1
Nouvelles approches d’utilisation de la spectroscopie de photoélectrons à rayons X (XPS) pour le développement et le contrôle des technologies FDSOI avancées
Laurent Fauquier
couche
germanium
figure
silicium
sio2
parxps
profil
couches
d’épaisseur
technique
composition
profondeur
pourcentage
mesures
hfon
industriel
l’épaisseur
pic
l’échantillon
hfo2
substrat
angles
spectre
atomique
l’xps
présente
d’azote
meis
profils
paramètre
pics
déterminer
échantillons
l’énergie
surface
spectres
l’empilement
grille
présentant
liaison
métrologie
simulation
énergie
obtenus
chimique
relatif
ions
gradient
angle
faible
Мова:
french
Файл:
PDF, 7.01 MB
Ваші теги:
0
/
0
french
1
Перейдіть за
цим посиланням
або знайдіть бот "@BotFather" в Telegram
2
Надішліть команду /newbot
3
Вкажіть ім'я для вашого боту
4
Вкажіть ім'я користувача боту
5
Скопіюйте останнє повідомлення від BotFather та вставте його сюди
×
×